IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

社名

嶺光音電機株式会社

所在地

〒230-0071
神奈川県横浜市鶴見区駒岡2-16-10
→アクセス
TEL. 045-571-1231
FAX. 045-583-2492

創立

1954年3月

資本金

3000万円

代表者

山際　量也

事業内容

生産ライン、品質管理、研究開発向け
各種半導体測定器の開発、製造及び販売

主な納入先

株式会社東芝、トヨタ自動車株式会社、富士電機株式会社、本田技研工業株式会社、 ホンダエンジニアリング株式会社、 三菱電機株式会社、ローム株式会社、住友電気工業株式会社、 株式会社ケーヒン、株式会社エヌエフ回路設計ブロック、キヤノン株式会社、 シチズン株式会社、シャープ株式会社、スタンレー電気株式会社、 ソニー株式会社、その他

沿革

1954年03月

東京都大田区嶺町にて会社設立

1958年03月

生産増大に伴い品川大崎工場移転

1962年03月

ゲルマニウム単結晶引き上げ装置を開発

1967年4月

川崎市中原区に工場を収得

1968年11月

トランジスター　ICBO+Hfe測定器を開発

1969年09月

鶴見工場新設

1970年08月

トランジスター　逆特性測定器を開発

1973年08月

CMOS IC Function Testerを開発

1978年10月

Tstgトランジスター用スイッチングタイムテスターを開発

1979年06月

FET Trr測定器を開発

1980年05月

FET Tf測定器を開発

1985年06月

鶴見事業所新設

1985年08月

POWER MOS FET Trr テスターを開発

1985年08月

POWERトランジスター Tstg テスターを開発

1992年02月

GTR 8素子 スイッチングタイムテスターを開発

1992年05月

IGBT スイッチングタイムテスターを開発

1995年10月

IGBT Trrテスターを開発

1997年09月

IGBT Vsusテスターを開発

1998年04月

FET-IGBT スイッチング/Trrテスターを開発

1999年05月

New Dip IPM スイッチングタイムテスターを開発

2000年03月

POWER MOS FET Vsus テスターを開発

2001年02月

IPM 8素子 スイッチングタイムテスターを開発

2001年08月

�冦V LD, LED 過渡熱抵抗測定器を開発

2002年12月

ISO14001認証取得

2003年03月

ダイオード用チップテスターを開発

2004年03月

ハイブリッド車用パワーデバイス測定装置を開発

2004年10月

ウエハー用スイッチングタイムテスターを開発

2004年10月

リークテスター[DC-7331]を開発

2008年02月

大電流ダイオードチップテスターを開発

2009年11月

サージ電流測定装置[SGI-2010]を開発

2009年12月

1200V系高温DC検査装置を開発

2010年12月

SiC用IGBT動特性テスター[ST-1506]を開発

2011年7月

LD・LED ΔmV熱抵抗測定器を開発

2011年10月

自動車メーカー向けインバーター検査装置を開発

2014年11月

[ST-2400]IGBTチップ用ダイナミックテスターを開発

2015年11月

[ST-1322]低電圧高電流アバランシェテスターを発表

2016年04月

[ST-3534]アバランシェ耐量試験装置（研究開発向け）を発表