嶺光音電機株式会社は、ハイブリッド車や省エネ家電などに使用される
パワーデバイスを中心とした半導体及び電子部品のテスターメーカーです。
当社では、お客様の製品開発段階での評価・試験から、ウェハー、チップレベルでの
前工程試験、パッケージング後の後工程試験まで、お客様からのさまざまなニーズに
応え快適なソリューション活動を展開しております。
エンジニア募集中！弊社では志ある電気、機械、ソフトウェア設計の人材を募集しています。
私たちと一緒に未来を作りませんか！
※詳細は採用情報をご覧ください。
- 2023年07月10日
- 採用情報、製品情報を更新しました。
- 2020年04月14日
- ST-1421 ダイオード試験装置に使用しているオシロスコープが生産中止の為、後継機を検討中。
- 2019年05月30日
- ST-0203 研究・開発向け、Dynamic Testerを発表しました。
製品について
当ウェブサイト掲載製品についての仕様等は、改善などの理由により予告なく変更する場合があります。
また、諸般の事情により型名や価格の変更、或いは生産終了となる場合がありますのでご了承ください。
当ウェブサイトに掲載されている製品写真の色等は、画面表示の都合上、実際の製品と異なる場合があります。
ご注文の際、仕様等に関する不明点につきましては、弊社営業担当までご確認ください。
- ST-2400 Dynamic Tester（研究開発向け設備）
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- パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。
- シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、豊富な解析機能を備えています。
- 複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます。
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- ST-1600B Switching Tester（生産ライン向け設備）
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- ST-1600B IGBT Switching Tester（本装置）は、IGBT動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です。
- 本装置は、フルオートハンドラーとの接続が行え、上位コンピュータとオンラインで接続し、データの管理やテスト条件の管理ができます。
- 複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます。
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- ST-1322 アバランシェ耐量試験装置（研究開発向け設備）
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- 本装置は、POWER MOS FET (Nch/Pch)のL負荷アバランシェ測定し、GO/NG判定を行う装置です。
- 試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、ディジタルオシロスコープを使用した装置と比べ低価格です。
- 本装置は上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の管理ができます。
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- ST-1506 Dynamic Tester（研究開発向け設備）
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- 半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です。
- 全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を解析して、測定及び判定を行います。
- パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。
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- 評価用アクセサリー
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- R負荷、L負荷、スナバコンデンサ、ソケット・アダプタ等のアクセサリが豊富です。
- 研究開発業務を支援する各種治具（電源BOX、Qg治具など）を扱っています。
- ※詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。
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