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IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

嶺光音電機株式会社

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〒230-0071
神奈川県横浜市鶴見区駒岡2-16-10

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2023年07月10日: 採用情報、製品情報を更新しました。

2020年04月14日: ST-1421 ダイオード試験装置に使用しているオシロスコープが生産中止の為、後継機を検討中。

2019年05月30日: ST-0203 研究・開発向け、Dynamic Testerを発表しました。

2016年04月22日: ST-3534 アバランシェ耐量試験装置（研究開発向け）を発表しました。

2015年11月30日: ホームページをリニューアルしました。

2015年11月28日: >よくある質問を更新しました。

2015年11月24日: >ST-1322 低電圧高電流アバランシェテスターを発表しました。

2014年12月15日: >ST-2400 研究・開発向け、Dynamic Testerを発表しました。

2013年11月11日: >Qg冶具　研究・開発向けに適した治具を発表しました。

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