ＩＧＢＴ試験器,ＳｉＣ試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

特　徴

車載用面実装タイプのパワーデバイスの研究開発・評価のスピードを飛躍的に向上できます。

概　要

対象パッケージ概略

対象デバイス 　　・Pch、Nch対応 　　・MOSFET＋ﾀﾞｲｵｰﾄﾞ 　　・ダイオード 最大定格 　　・Vｄｄ電圧　　 　200V 　　・Idd短絡電流　1000A 対象パッケージ 　　・TSON Advance 　　・DSOP Advance 　　・SOP Advance 　　・LFPAK33 　　・DPAK 　　・TO-220SM(W) 　　・TOLL（リードレス）

ＣＴｱﾀﾞﾌﾟﾀｰ１（汎用） ・スナバ　2000μF/600V ・短絡　　　1000A/50μs ・Ava/swtL　350A/300μs ＣＴｱﾀﾞﾌﾟﾀｰ２　（Trr用） ・スナバ　10μF/1250V ・Trr　350A/800μs ＣＴｱﾀﾞﾌﾟﾀｰ３（長時間用） ・スナバ　165μF/630V ・短絡　1000A/300μs ・Ava　　　　　　　　1ms TESTHEAD（汎用） ・スナバ　330μF/630V

■　ST-0203 Dynamic Tester（以下、本装置）は、MOSFET（Pch/Nch）の動特性を設定された
　　テスト条件に従って測定をする装置です。
■　品種冶具を用い、段取り換えを行う事により対象パケージ全てに対応し低Rs／低Lsにて測定が
　　行えます。
■　全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を解析して、測定　及び
　　判定をします。
■　パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験、破壊耐量試験を安全に
　　効率的に行う装置です。
■　シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、豊富な解析機能を備えています。
■　複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます。（※３）
■　L負荷、R負荷、プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。
■　ゲート抵抗は、プラグインタイプ（EXT-RG）とプログラミングタイプを使用し、様々な
　　ハードウエア設定を可能にしています。
■　波形表示画面にて、測定波形が表示されますので、カーソル測定／オシロスコープ画面の
　　キャプチャー／測定波形データの読み込みと保存が行えます。
■　オプションの高温試験ユニットを使用する事で、常温から１９０℃までの試験が行えます。

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機　能

■　パワーデバイスに必要な試験項目を標準装備。
　　　・L負荷スイッチング測定
　　　・R負荷スイッチング測定
　　　・リカバリー耐量（trr）
　　　・アンクランプアバランシェ測定
　　　・Scsoa
　　　・Qg（ゲート電荷）測定
■　電流設定は、IｄTrip設定とT1時間設定があります。
■　IdMax設定値を超える電流が流れた場合は直ちに遮断し、DUT　および　テスターを
　　保護します。
■　測定はオープン、ショート、リーク（パワー印加前、パワー印加後）等のプリテストを
　　行います。
■　試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作
■　試験結果は、測定データ（CSV形式）、波形データは（CSV形式・JPG形式）にて保存
　　されますので、市販ソフト（Excel等）にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。
■　測定方法はシングル機能、スイープ機能、ループ機能が有ります。
■　得られた測定値は設定されたリミット値と比較されて、GO/NG判定され、決められた分類に
　　従ってランク分けされ、測定データは、パソコンにCSV形式にて自動保存されます。
■　平均化機能、波形スムージング機能（移動平均）　および　コブ検出機能が有ります。
■　パソコンへの波形表示機能が有ります。
　　　・測定波形の解析機能
　　　・波形の保存、波形の読み込みが行えます。（CSV形式、JPG形式、MKW形式）
　　　・波形の拡大、カーソル測定機能、測定波形を反転表示出来ます。
■　セルフテスト機能を有しております。
　　　・装置の故障診断解析が容易に行へメンテナンス時間を短縮出来ます。
■　ソフトウェアは、「作業者モード」/「技術者モード」が有り、パスワードにて条件ファイルの
　　保護をする事が出来ます。
■　被測定物のパッケージ毎に用意したアダプターを交換する事により、各種パッケージの試験を
　　容易に行えます。
■　消耗品は、メンテナンス・マニュアルにより、お客様にて交換が行えます。
■　お客様にて作成された冶具を【ＣＴアダプター】または、【ＴＥＳＴＨＥＡＤ】に接続する事
　　が出来ます。
　　※　接続するプラグ類は、ＳＴ−０２０３の仕様に合わせて頂きます。

電　気　的　仕　様

※１、※２：L負荷は、【LINE1/LINE2/LINE3】の３箇所を選択できます。
※１、※２：R負荷は、【LINE1/LINE2/LINE3/品種冶具G1直近】の４箇所を選択できます。
※１、※２：実装負荷については、【ベース板Ａ】または、【ベース板Ｂ】を使用する事により、
　　　　　　容易に設定が作成出来ます。
※３　　　：【TESTHEAD】部の【LINE1負荷】【LINE2負荷】を併用する事により、異なる試験
　　　　　　項目にて測定シーケンスを行う事が出来ます。
※　上記の仕様は抜粋内容ですので、詳細は当社営業部に問い合わせて下さい。

価　格

■　ST-0203は、お客様のご要望に応じた適切なシステム構成をご提案させて頂きます。
　　詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。


カタログ：ST-0203 Dynamic Tester