IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,嶺光音電機株式会社

トップページ > 製品情報> 研究開発向　動特性試験装置／複合試験装置

製品一覧PRODUCTS

製品名称　（複合試験装置）		主な仕様
	ST-2400 対象デバイス・IGBT＋ダイオード・ダイオード詳細を見る	最大定格 Vce：1700V Vclamp：2000V IC：2000A 短絡時：4000A
	ST-1506 ・ワーク形態は、テストフィクスチャーおよび、品種別アダプターを利用して、TO220、TO-3P、2in1モジュールの測定が可能。詳細を見る	最大定格（モジュール） Vce：1500V Ic：800A 短絡時：3000A 最大定格（TO220） Vce：1500V Ic：500A 短絡時：1000A DUT温度印加範囲常温～+200℃
	ST-1520 ・2in1(3パラ)～6in1のIGBTの自動測定が可能・低温発生装置とヒートプレート方式により、低温-40℃～常温～高温+200℃までの各試験項目で、温度環境を設定した連続試験が出来ます。詳細を見る	最大定格 Vce：1700V Vclamp：2000V Ic：2000A 短絡時：15000A DUT温度印加範囲 -40℃～+200℃
	ST-6527B ・IGBT(1素子) FET(Nch1素子) ダイオード・L負荷/R負荷でのスイッチングタイム測定、リカバリー測定、SCSOA、RBSOA試験に対応・温度ステージ搭載・各種スイープ機能詳細を見る	最大Vce電圧：30V～1700V 最大Vclamp電圧：50V～2000V 最大出力電流：600A 短絡時：3000A DUT温度印加範囲：室温～+230℃