IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社
TEL. 045-571-1231
〒230-0071
神奈川県横浜市鶴見区駒岡2-16-10
ST-1506Dynamic Tester
特 徴
パワーデバイスの研究開発・評価スピードを飛躍的に向上させます。
概 要
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- ■ ST-1506 Dynamic Tester（以下、本装置）は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です。
- ・全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を解析して、測定及び判定をします。
- ■ パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。
- ■ テストフィクスチャーを入れ替える事により、TO-220/TO-3P、2in1モジュール、6in1（オプションで後付け追加）の試験を行う事が出来ます。
- ■ シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、豊富な解析機能を備えています。
- ■ 複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます。
- ■ L負荷、R負荷、ダイオード、ゲート抵抗は、プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。
機 能
- ■ パワーデバイスに必要な試験項目を標準装備。
- ・L負荷スイッチング測定
- ・R負荷スイッチング測定
- ・リカバリー耐量（trr）
- ・アンクランプアバランシェ測定
- ・Scsoa（リレー短絡／アーム短絡）
- ・Rbsoa
- ・Qg（ゲート電荷）測定
- ■ 電流設定は、IcTrip設定とT1時間設定があります。
- ■ IcMax設定値を超える電流が流れた場合は直ちに遮断し、DUTおよびテスターを保護します。
- ■ 測定はオープン、ショート、リーク（パワー印加前、パワー印加後）等のプリテストを行います。
- ■ 試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作
- ■ 試験結果は、測定データ（CSV形式）、波形データは（CSV形式・JPG形式）にて保存されますので、市販ソフト（Excel等）にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。
- ■ 測定方法はシングル機能、スイープ機能、ループ機能が有ります。
- ■ 得られた測定値は設定されたリミット値と比較されて、GO/NG判定し、パソコンにCSV形式にて自動保存されます。
- ■ 平均化機能、波形スムージング機能（移動平均）およびコブ検出機能が有ります。
- ■ パソコンへの波形表示機能が有ります。
- ・測定波形の解析機能
- ・波形の保存、波形の読み込みが行えます。（CSV形式、JPG形式、MKW形式）
- ・波形の拡大、カーソル測定機能
- ■ セルフテスト機能を有しております。
- ・装置の故障診断解析が容易に行へメンテナンス時間を短縮出来ます。
- ■ ソフトウェアは「作業者モード」「技術者モード」が有り、パスワードにて条件ファイルの保護をする事が出来ます。
電 気 的 仕 様
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 対象素子 | IGBT,MOSFET,JFET(Nch), ダイオード |
| 最大定格 | Vcc：1500V、 Ic(モジュール)：800A Ic(TO-220 )：500A |
| L負荷（プラグイン） | オプション（約1μH〜5mH）9点+ EXT-L負荷の自動切り替え ※1 |
| R負荷（プラグイン） | オプション※2 |
| スナバ・コンデンサ | 44uF/1890V サブスナバ 22uF/1890V メインスナバ |
| Rg抵抗（プラグイン） | RgOn：任意、RgOff：任意 |
| 波形取得 | D.S.O. |
| 対象素子への温度設定 | 条件ファイルによる自動温度制御 ・常温〜+200℃ |
※1、※2：実装負荷については各種ございますので、ご要求により対応いたします。
※ 上記の仕様は抜粋内容ですので、詳細は当社営業部に問い合わせて下さい。
価 格
■ ST-1506は、お客様のご要望に応じた適切なシステム構成をご提案させて頂きます。詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。
カタログ：ST-1506 Dynamic Tester
バナースペース
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