特 徴
パワーデバイスの研究開発・評価のスピードを飛躍的に向上できます。
概 要
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- 対象デバイス
- ・IGBT(2in1:最大3並列)
- ・IGBT(6in1)
- 最大定格
- ・Vce電圧 1500V
- ・コレクタ電流 2000A
- DUT印加温度
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- ■ ST-1520 スイッチング特性評価装置は、IGBT(DCB)の2in1(最大3パラ)および6in1のL負荷スイッチング試験、リカバリー(Trr)試験、
Scsoa(負荷短絡)試験、Rbsoa、アバランシェ試験を低温(-40℃)及び高温(+200℃)加熱状況下で行う事が出来る装置です。
- ■ パラ構成ワークの場合は、全体波形および個別波形から素子毎の測定ができます。
- ■ 波形収集を行うオシロスコープ、波形解析を行うシステムコントローラ、テストヘッド、
テストフィクスチャ、チャッキングメカ、低温発生装置、ヒータープレートおよび
テスター制御とテスト条件の作成/編集を行うパソコンによって構成されます。
- ■ パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や信頼性試験・破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。
機 能
- ■ パワーデバイスに必要な試験項目を標準装備。
- ・L負荷スイッチング測定
- ・リカバリー耐量(Trr)
- ・アンクランプアバランシェ測定
- ・Scsoa
- ・Rbsoa
- ■ Trip電流設定は、IcTrip設定とT1Trip設定があります。
- ■ IcMax設定値を超える電流が流れた場合は直ちに遮断し、DUTおよびテスターを保護します。
- ■ 測定はオープン、ショート、リーク(パワー印加前、パワー印加後)等のプリテストを行います。
- ■ 試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作
- ■ 試験結果は、測定データ(CSV形式)、波形データは(CSV形式・JPG形式)にて保存されますので、
市販ソフト(Excel等)にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。
- ■ 測定方法はシングル機能、スイープ機能、ループ機能が有ります。
- ■ 得られた測定値は設定されたリミット値と比較されて、GO/NG判定され、決められた
分類に従ってランク分けされ、測定データは、パソコンにCSV形式にて自動保存されます。
- ■ 平均化機能、波形スムージング機能(移動平均)およびコブ検出機能が有ります。
- ■ パソコンへの波形表示機能が有ります。
- ・測定波形の解析機能
- ・波形の保存、波形の読み込みが行えます。(CSV形式、JPG形式、MKW形式)
- ・波形の拡大、カーソル測定機能
- ■ セルフテスト機能を有しております。
- ・装置の故障診断解析が容易に行へメンテナンス時間を短縮出来ます。
- ■ ソフトウェアは「作業者モード」「技術者モード」が有り、パスワードにて条件ファイルの保護をする事が出来ます。
電 気 的 仕 様
項 目 |
内 容 |
対象素子 |
IGBT(2in1):最大3並列
IGBT(6in1) |
最大定格 |
Vcc:1500V、Ic:2000A |
L負荷(プラグイン) |
5μH,200μH,500μH |
Rg抵抗(プラグイン) |
任意 |
波形取得 |
D.S.O. |
対象素子への温度設定 |
-40℃〜+200℃ |
※ 上記の仕様は抜粋内容ですので、詳細は当社営業部に問い合わせて下さい。
価 格
■ ST-1520は、お客様のご要望に応じた適切なシステム構成をご提案させて頂きます。
詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。
カタログ:ST-1520 スイッチング特性評価装置