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よくある質問 製品一覧PRODUCTS

製品一覧 [ 研究開発用 : アバランシェ耐量試験装置 ]

Q.スタートスイッチを押してもテスト開始をしない。

TEST HEADの「READY」LED が点灯していない場合。

Q.IdTrip を使用しているが、IdTripオーバー になる場合

測定電圧とL負荷のインピーダンスの関係で電流が飽和し、その時間内で目標電流値に達しなかった事を示します。

  • 測定電圧を上げる。
  • インピーダンスの小さいL負荷を使用する。

Q.IdTrip を使用しているが、Id電流が上がり過ぎてしまう場合

使用しているL負荷が小さい、且つ Vdd電圧が高い場合は、Id電流が上昇して行く di/dtが急峻になる為、設定電流に達した所でゲートオフしても、装置が持つ遅延時間と測定デバイスの持っているTdoffにより電流が上がり過ぎてしまいます。

  • Id電流 を下げて、目標電流値になる様に値を調整して下さい。
  • TripMode を「Time」に変更する事にて、パルス幅が Id電流を流す時間となり、細かな設定が可能と成ります。

Q.Id電流の傾斜が丸く成る。

使用しているL負荷の抵抗Rsが大きい為です。

  • 抵抗Rsの小さいL負荷を使用して下さい。
  • 抵抗Rsの小さいL負荷が必要な場合、当社営業部に御相談をお願い致します。

Q.「セルフテスト」 の開始方法が解りません。

取扱説明書の「セルフテスト」項を参照して下さい。

  • 手順@ : DUTを取り除く。
  • 手順A : RG,L負荷、DUTソケットの有無は関係が有りません。
  • 手順B : 前面の2つの扉を閉めて下さい。
  • 手順C : 「データ保存」にチェックを入れて下さい。
  • 手順D : 「スタート(S)」を実行して下さい。

Q.「セルフテスト」 の結果がFAILとなる場合

経年変化による調整時のずれ または、故障が考えられますので、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。

  • 原因@ : DUTが実装されていた場合 (DUTを取り除いて下さい。 )
  • 原因A : 経年変化による調整値のずれ ( 校正が必要です。     )
  • 原因B : 装置の故障が考えられます。

Q.「状態表示説明」 について

取扱説明書の「状態表示説明」項を参照して下さい。

Q.「測定開始時のエラー表示」 について

取扱説明書の「測定開始時のエラー表示」項を参照して下さい。

Q.「測定中に検出されたエラー表示」 について

取扱説明書の「測定中に検出されたエラー表示」項を参照して下さい。







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