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IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

TEL. 045-571-1231

〒230-0071
神奈川県横浜市鶴見区駒岡2-16-10

ST-3534アバランシェ耐量試験装置

特 徴

パワーデバイスの研究開発・評価のスピードを飛躍的に向上できます。 Pch/NchのMOS FETおよびJUNCTION FET評価に最適です。

概 要

  • 対象デバイス
    • ・Pch、Nch対応
    • ・POWER MOS FET
    • ・JUNCTION FET
  • 最大定格
    • ・Vdd電圧 25V〜600V
    • ・Idd電流 200A
    • ・BVDSclamp
      • Nch 100V〜2000V
      • Pch 100V〜1000V
  • ■ ST-3534 Avalanche Tester(以下、本装置)は、POWER MOS FET(Nch/pch)の L負荷アバランシェ測定し、GO/NG判定を行う装置です。
  • ■ ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を解析して測定および判定をします。
  • ■ 本装置は上位コンピュータとオンラインで接続し、データの管理やテスト条件の管理ができます。
  • ■ アノード、カソードには、ケルビン・センス用端子があり、各電圧波形をモニタ。
  • ■ L負荷の切り替えは、ショートプラグ4個を差し込み、0.1mHから19.99mHまで設定が行え、 条件ファイルのL負荷設定値とIDコード読み取りにて整合をとっています。
  • ■ 測定値は、設定された判定値と比較されてGO/NG判定されます。また、 決められた分類に従ってランク分けされ、パソコンにCSV形式で自動保存されます。
  • ■ 測定波形データは、自動保存設定により、CSV/BMP/MKW形式にて自動保存されます。
  • ■ 波形表示画面にて、測定波形が表示されますので、カーソル測定/オシロスコープ画面の キャプチャー/測定波形データの読み込みが行えます。

機 能

  • ■ アバランシェ試験に必要な試験項目を標準装備。
    • ・プリテスト
      • G-S SHORT検出、OPEN検出、SHORT検出、リーク電流検出
    • ・本テスト
      • EAR測定、BVDSS電圧測定、IAR電流測定、dv/dt測定、Id過電流検出
    • ・ポストテスト
      • リーク電流検出
  • ■ Trip電流設定は、IdTrip設定があります。
  • ■ IdTrip設定値を超える電流が流れた場合は直ちに遮断し、DUTおよびテスターを保護します。
  • ■ ホットプレートでデバイスを高温状態にして、測定できます。
  • ■ 試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作
  • ■ 試験結果は、測定データ(CSV形式)にて保存されますので、市販ソフト(Excel等)にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。
  • ■ 測定方法は、単発/スイープ/連続モードが有ります。
  • ■ 得られた測定値は設定されたリミット値と比較されて、GO/NG判定され決められた分類に 従ってランク分けされ、測定データは、パソコンにCSV形式にて自動保存されます。
  • ■ セルフテスト機能を有しております。
    • ・装置の故障診断解析が容易に行へメンテナンス時間を短縮出来ます。
  • ■ ソフトウェアは「作業者モード」「技術者モード」が有り、パスワードにて条件ファイルの保護をする事が出来ます。
  • ■ パソコン画面上に各種アラーム情報を表示。下記のエラー情報の把握が容易に行えます。
    • ・DUTオープン検出
    • ・DUTショート検出
    • ・G-Sショート検出
    • ・リーク電流検出
    • ・Id過電流検出
    • ・Vdd電源異常
    • ・システム電源異常
    • ・タイムアウトエラー
    • ・ハンド治具の安全カバー(試料用)、筐体のカバーオープンのインターロック(テストの中断、DUT供給電源の高速放電)
    • ・テストヘッドの異常温度監視(過昇防止)
    • ・温調器関係の保護機能
      • 高温注意(40℃)、高温警報(170℃)、ヒータ断線、センサー断線
  • ■ 測定デバイスのゲート抵抗は、プラグインユニット形式

電 気 的 仕 様

 項  目  内  容
 対象素子 MOS FET (Pch/Nch)
JUNCTION FET(Pch/Nch)
 最大定格 電圧:25V〜600V
電流:1A〜200A
 L負荷(セレクタブル) L負荷:0.1mH〜19.99mH
    最大ピーク電流 100A
EXT :任意
 Rg抵抗(プラグイン) Rgプラグイン :1個
波形取得 D.S.O.
高温測定 温度範囲  :室温〜170℃
測温抵抗体 :JPT100
制御    :PID制御
ヒータ   :サミコンスーパAC100V
サンプルサイズ:TO-220(TO-3P)同等
※ デバイスはポットプレートで温度を
  上げて、手動で測定スタートを行い
  ます。
※ 温度データはパソコンへ通信します。

※ 上記の仕様は抜粋内容ですので、詳細は当社営業部に問い合わせて下さい。

価 格

■ ST-3534は、お客様のご要望に応じた適切なシステム構成をご提案させて頂きます。詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。

カタログ:ST-3534 Avalanche Tester

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バナースペース

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