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IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

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トップページ > 製品情報> 研究開発向 動特性試験装置/アバランシェ耐量試験装置

製品一覧PRODUCTS

製品一覧 [研究開発向 動特性試験装置]

製品名称 (アバランシェ耐量試験装置) 主な仕様
  • ST-1322
    • ・低Rs(装置内部抵抗)
    • ・低電圧にて、大電流試験が可能
    • ・研究開発/試験時間が短縮
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  • Vdd:90V
  • Id:500A
  • ST-3534 (New)
    • ・ショートプラグ4個の組み合わせにて、L負荷を10μHステップで0.1mH〜19.99mHまで設定
    • ・ホットプレートによりデバイスを高温状態にして測定
    • ・オシロスコープで取り込んだ波形を解析して測定および判定
    • ・研究開発/試験時間が短縮
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  • Vdd:25V〜600V
  • Id:1A〜200A
  • BVDSclamp
    • Nch 100V〜2000V
    • Pch 100V〜1000V
  • デバイスの高温設定
    • 室温〜170℃


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