ＩＧＢＴ試験器,ＳｉＣ試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

特　徴

・各種ＬＥＤの研究開発・評価に貢献
・解析モードにて、評価時間を大幅に短縮

概　要

対象デバイス 　　・レーザーダイオード 　　・ＬＥＤ 　　・青色ＬＥＤ 　　・超高輝度ＬＥＤ 　　・複合ＬＥＤ 最大定格 　　・Vf電圧　　3V，5V，7.5V 　　・Vm電圧　3V，5V，7.5V 　　・Ｉｆ電流　　15mA〜3000mA 　　・Im電流　0.1mA〜10.0mA

■　本測定器は、�冦V法によりレーザーダイオード／各種ＬＥＤの熱抵抗を測定する装置です。
■　測定値は、ヒートシンク熱設計、加速寿命試験等の温度ストレス評価に利用できます。
■　オプション（TH-2003等）を追加する事により、被測定ダイードの温度設定管理が
　　できます。
　　・　0℃〜100℃
■　本装置のコントロールはすべて、パソコンにて行います。

機　能

■　レーザーダイオード、各種LED等の熱抵抗を測定する装置です。
■　設定項目と測定項目
　　　・If電流設定
　　　・Im電流設定
　　　・Tp時間設定
　　　・Td時間設定
　　　・Vf電圧測定
　　　・Rth　または、　�冦Vの判定
■　動作モード
　　　・基本モード
　　　　試験条件を設定し、その条件に従って測定を行います。
　　　・解析モード
　　　　設定された可変項目を徐々に変化させながら、その時の熱抵抗を順次測定します。
■　3種類のWAIT条件
　　　・時間/Vm値/Tp
■　試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作。
■　測定データは、CSV形式にて保存。
■　テストプログラムの繰り返し測定機能があります。
　　　・温度　または、時間にて繰り返します。
　　　・測定データのログは、1個のCSVファイルに保存。

電　気　的　仕　様

項　　目	内　　容
対象素子	レーザーダイオード、各種LED
順方向電圧測定	レンジ1：100mV〜3000.0mV レンジ2：100mV〜5000.0mV レンジ3：100mV〜7500.0mV
Ｉｍ電流	0.1mA〜10.0mA
Ｉｆ電流	15mA〜3000mA
Ｉｆ印加時間（Ｔｐ）	0.1ms〜9999s
Ｖｍ２測定遅延時間	1.0μs〜99.9ms

オ　プ　シ　ョ　ン

項　　目	内　　容
温度制御装置	TH-2003 ・TEMP LOGGER+SCANNER
ペルチェ式冷熱ユニット	UT7070-AL ・最大温度差　：　72℃（Th=50℃） ・最大吸熱量　：　132W
ペルチェコントローラ	FC-2410　（SCNT社製）
温度センサー	Kタイプ熱電対
対象素子の温度設定範囲	0℃〜100℃

※　上記の仕様は抜粋内容ですので、詳細は当社営業部に問い合わせて下さい。

価　格

■　TH-2167　は、お客様のご要望に応じた適切なシステム構成をご提案させて頂きます。
　　詳しくは、当社営業部までお問い合わせをお願い致します。

カタログ：TH-2167　過渡熱抵抗測定器