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IGBT試験器,SiC試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

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製品一覧PRODUCTS

製品一覧 [研究開発向 静特性試験装置]

製品名称 主な仕様
  • DC-7532  生産終了予定
    • ・研究開発、評価スピードを飛躍的に向上
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  • 対象デバイス
    • ・IGBT(DCB)の2in1(最大3パラ)、6in1
    • ・IGBT(単体デバイス)
    • ・ダイオード(単体デバイス)
    • ・FET(単体デバイス)
  • 最大定格
    • ・Vce:1200V
    • ・Ic:1200A

バナースペース

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