ＩＧＢＴ試験器,ＳｉＣ試験器,チップテスタ,ダイナミックテスタ,半導体テスタ,動特性試験器,嶺光音電機株式会社

短絡試験を行い、ＤＵＴが短絡破壊された影響によりゲート側へもダメージを与えた結果、ゲートドライバー周辺部品の破損が考えられます。

• ゲート抵抗の破損（断線）
• プラグインＲＧのゲート抵抗　または、Ｏｎ／Ｏｆｆ用ショットキーダイオードの破損が考えられます。
• ゲート保護用双方向ツェナーの破損
• ゲートドライバ基板の破損

操作BOXの 「READY」LED　が点灯していない場合。

TEST HEADの「READY」LED　が点灯していない場合。

ＴＥＳＴ　ＨＥＡＤのラピットヒューズが切れている時。

Ｒ負荷の仕様を超えた印加時間を設定した為、Ｒ負荷の破損（抵抗の断線）が考えられます。

• Ｒ負荷の抵抗値を確認後、弊社へご連絡をお願い致します。

取扱説明書の「ステータス表示」項を参照して下さい。

取扱説明書の「測定開始時のエラー表示」項を参照して下さい。

取扱説明書の「測定中に検出されたエラー表示」項を参照して下さい。

取扱説明書の「ロット処理に関する表」項を参照して下さい。

取扱説明書の「ネットワークモードのエラー表示」項を参照して下さい。