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よくある質問 製品一覧PRODUCTS

製品一覧 [ 研究開発用 : 複合試験装置 ]

Q.短絡試験後、オシロスコープにゲート波形が表示されなく成りました。

短絡試験を行い、DUTが短絡破壊された影響によりゲート側へもダメージを与えた結果、ゲートドライバー周辺部品の破損が考えられます。

  • ゲート抵抗の破損(断線)
  • プラグインRGのゲート抵抗 または、On/Off用ショットキーダイオードの破損が考えられます。
  • ゲート保護用双方向ツェナーの破損
  • ゲートドライバ基板の破損

Q.スタートスイッチを押してもテスト開始をしない。

操作BOXの 「READY」LED が点灯していない場合。

TEST HEADの「READY」LED が点灯していない場合。

Q.「テスト開始」 をしても、ワークにVce電圧が印加されない。

TEST HEADのラピットヒューズが切れている時。

Q.コレクタ電流が流れない。

R負荷の仕様を超えた印加時間を設定した為、R負荷の破損(抵抗の断線)が考えられます。

  • R負荷の抵抗値を確認後、弊社へご連絡をお願い致します。

Q.テスターの変化した状態を示す「状態表示」 について

取扱説明書の「ステータス表示」項を参照して下さい。

Q.「測定開始時のエラー表示」 について

取扱説明書の「測定開始時のエラー表示」項を参照して下さい。

Q.「測定中に検出されたエラー表示」 について

取扱説明書の「測定中に検出されたエラー表示」項を参照して下さい。







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ST-1520
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